軸向薄膜電容的介電強度和介電常數(shù)
所謂介電強度是說電容器的電介質(zhì)耐受電壓的能力的量度。
軸向薄膜電容器的介電強度的測試是將塑膠薄膜放置在兩個電極之間,并且從低到高不斷地改變電極之間的電壓,直到塑膠薄膜發(fā)生介電擊穿為止。用這個過程來測量軸向薄膜電容器的電介質(zhì)的介電強度。造成介電擊穿時施加在電極之間的電壓高于試驗電壓。想了解更多詳情,請撥打免費熱線電話:4006299138。
軸向薄膜電容的介電常數(shù)是用于衡量軸向薄膜電容器所使用電介質(zhì)儲存電能多少的能力。它是指軸向薄膜電容的兩個電極板之間以塑膠薄膜為電介質(zhì)時的電容量與同樣的兩個電極之間以空氣為電介質(zhì)或真空時的電容量之比。
軸向薄膜電容的介電常數(shù)代表了電介質(zhì)的極化程度,也就是說電介質(zhì)對于電荷的束縛能力的強弱。軸向薄膜電容器的介電常數(shù)越大,對電荷的束縛能力越強;反之,電容器對電荷的約束能力就越弱。
因此,軸向薄膜電容器所使用的電介質(zhì)對電容器的容量有影響。使用相同的電介質(zhì)影響相同。而使用不同的電介質(zhì),介電常數(shù)不相同,所造成的影響也不同。